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幾何量學(xué)儀器設備校準
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高度卡尺校準中提到它是用來(lái)測量制件表面高度位置和精密劃線(xiàn)的量具。其主要結構形式分別為游標高度卡尺、帶表高度卡尺和數顯高度卡尺。
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